中文版　ENGLISH
在线客服
产品分类检索
TAG：高速采集卡 虚拟示波器 逻辑分析仪 视频采集卡
搜索结果
  • 本仪器可供测量各种类型的晶体三极管Vbe,Vce(sat),Vbe(sat)和二极管正向压降Vf的测试
    型号：BJ2950A 半导体分离器件测试仪 BJ2950A
    公司：迪阳代理 价格： ￥3500
    本仪器可供测量各种类型的晶体三极管Vbe,Vce(sat),Vbe(sat)和二极管正向压降Vf的测试
  • 可测NPN.PNP。小，中大功率三极管Iceo.Icbo.Icer反向截止电流，偏置电压500V，最高分辨0.1A
    型号：JS-2D 半导体分离器件测试仪JS-2D
    公司：迪阳代理 价格： ￥5800
    可测NPN.PNP。小，中大功率三极管Iceo.Icbo.Icer反向截止电流，偏置电压500V，最高分辨0.1A
  • 二极管反向漏电流仪，测试二极管及任何二端器件，分脉冲和直流二种方式，200V-1500V，0.1na-100uA
    型号：JS-2G 半导体分离器件测试仪JS-2G
    公司：迪阳科技公司 价格： ￥8300
    二极管反向漏电流仪，测试二极管及任何二端器件，分脉冲和直流二种方式，200V-1500V，0.1na-100uA
  • 三极管HFE测试仪，测量三极管放大倍数HFE
    型号：BJ2951A 半导体分离器件测试仪BJ2951A
    公司：迪阳代理 价格： ￥3500
    三极管HFE测试仪，测量三极管放大倍数HFE
  • 晶体管击穿电压测试仪，测量三极管Bvcbo.Bvceo.Bvebo及Bvcer
    型号：BJ2952A 半导体分离器件测试仪 BJ2952A
    公司：迪阳代理 价格： ￥3500
    晶体管击穿电压测试仪，测量三极管Bvcbo.Bvceo.Bvebo及Bvcer
  • BJ2961A中小功率半导体三极管开关参数测试仪
    型号：BJ2961A 半导体分离器件测试仪BJ2961A
    公司：迪阳代理 价格： ￥58000
    BJ2961A中小功率半导体三极管开关参数测试仪
  • 2931A 可控硅结合参数测试仪。可测量晶闸管的通态，短态，触发电压，维持电流，维持电压等参数。VTM：0-10V ITM：0-15A VDRM：0-4KV VG：0-1-V IG：0-00MA ICH：0-500MA
    型号：2931A 半导体分离器件测试仪2931A
    公司：迪阳代理 价格： ￥13800
    2931A 可控硅结合参数测试仪。可测量晶闸管的通态，短态，触发电压，维持电流，维持电压等参数。VTM：0-10V ITM：0-15A VDRM：0-4KV VG：0-1-V IG：0-00MA ICH：0-500MA
  • 2932 晶闸管门极参数测试仪。可测量晶闸管及双向可控硅的触发电压，维护电流，可对双向
    型号：2932 半导体分离器件测试仪 2932
    公司：迪阳代理 价格： ￥4500
    2932 晶闸管门极参数测试仪。可测量晶闸管及双向可控硅的触发电压，维护电流，可对双向
  • SCRC 可控硅参数测试仪。可测量可控硅通态、大电流参数及触发电压，触发电流，维持电流.VF：0-3V IG：0-300MAVG：0-3V IH：0-300MA
    型号：SCRC 半导体分离器件测试仪SCRC
    公司：迪阳代理 价格： ￥14500
    SCRC 可控硅参数测试仪。可测量可控硅通态、大电流参数及触发电压，触发电流，维持电流.VF：0-3V IG：0-300MAVG：0-3V IH：0-300MA
  • 广泛用于半导体分立器件的生产测试，验收测试，质量控制和工程设计
    型号：ICT2900 半导体分离器件测试仪ICT2900
    公司：迪阳代理 价格： ￥240000
    广泛用于半导体分立器件的生产测试，验收测试，质量控制和工程设计
  • 本仪器可测量IN746~IN986系列，2CW，2DW，系列各类稳压二极管的正向压降Vf，稳定电压Vz，动态电阻Rz及反向电流Ib
    型号：QE-7A 半导体分离器件测试仪QE-7A
    公司：迪阳代理 价格： ￥16500
    本仪器可测量IN746~IN986系列，2CW，2DW，系列各类稳压二极管的正向压降Vf，稳定电压Vz，动态电阻Rz及反向电流Ib
  • 本仪器测量NPN及PNP型晶体三极管在直流、连续脉冲或单脉冲电流正向偏置条件下的二次击穿特性
    型号：BJ2983A 半导体分离器件测试仪BJ2983A
    公司：北无仪 价格： ￥56000
    本仪器测量NPN及PNP型晶体三极管在直流、连续脉冲或单脉冲电流正向偏置条件下的二次击穿特性
  • 本仪器可对各种类型硅PNP及NPN型晶体三极管的瞬态热阻参数进行快速测量。
    型号：BJ2984 半导体分离器件测试仪BJ2984
    公司：北无仪 价格： ￥56000
    本仪器可对各种类型硅PNP及NPN型晶体三极管的瞬态热阻参数进行快速测量。
  • 本仪器可对各种类锗、硅晶体二极管的瞬态热阻进行快速测试。
    型号：BJ2984A 半导体分离器件测试仪BJ2984A
    公司：北无仪 价格： ￥56000
    本仪器可对各种类锗、硅晶体二极管的瞬态热阻进行快速测试。
  • BJ2988A型晶体管正偏二次击穿及瞬态热阻测试仪可以同时进行瞬态热阻及正偏二次击穿的一次性检测。
    型号：BJ2988A 半导体分离器件测试仪BJ2988A
    公司：北无仪 价格： ￥78000
    BJ2988A型晶体管正偏二次击穿及瞬态热阻测试仪可以同时进行瞬态热阻及正偏二次击穿的一次性检测。
  • 本仪器可对各种类型N沟道及P沟道场效应晶体管的瞬态热阻参数进行快速测量。
    型号：BJ2989 半导体分离器件测试仪BJ2989
    公司：北无仪 价格： ￥78000
    本仪器可对各种类型N沟道及P沟道场效应晶体管的瞬态热阻参数进行快速测量。
  • XD2791 LCR自动测量仪可自动完成对电子元件的电感值L、电容值R、品质因数Q和损耗值D的测量，并同时用LED数码显示被测元件的主参量和副参量
    型号：XD2791 半导体分离器件测试仪XD2791
    公司：迪阳代理 价格： ￥点击询价
    XD2791 LCR自动测量仪可自动完成对电子元件的电感值L、电容值R、品质因数Q和损耗值D的测量，并同时用LED数码显示被测元件的主参量和副参量
  • 本仪器适用于对硅NPN型功率管进行测试。
    型号：BJ2986 半导体分离器件测试仪BJ2986
    公司：北无仪 价格： ￥98000
    本仪器适用于对硅NPN型功率管进行测试。
  • 本仪器可对N沟道及P沟道大功率MOS场效应晶体管的主要技术参数进行测量。
    型号：BJ2990 半导体分离器件测试仪BJ2990
    公司：北无仪 价格： ￥56000
    本仪器可对N沟道及P沟道大功率MOS场效应晶体管的主要技术参数进行测量。
  • 单机操作或PC介面控制，具有“单键测试”功能。对运算放大器及电压比较器提供稳定度、输出位准栘偏移及频率响应之快速功能检测
    型号：IST6500 数字集成电路IC测试仪
    公司：美国IST公司 价格： ￥91000
    单机操作或PC介面控制，具有“单键测试”功能。对运算放大器及电压比较器提供稳定度、输出位准栘偏移及频率响应之快速功能检测
首页上一页78910111213141516下一页尾页
北京迪阳世纪科技有限责任公司 版权所有 © 2008 - 2018 著作权声明
010-62156134 62169728 13301007825 节假日:13901042484 微信号:sun62169728
地址：北京市西城阜外百万庄扣钟北里7号公寓
E_mail:sales@pc17.com.cn 传真: 010-68328400
京ICP备17023194号-1 公备110108007750