半导体分离器件测试仪ICT2900

产品特点：

ICT2900系统由 Pentium 计算机和系统主机构成。系统基本配置包括 PC 一台（Pentium CPU, 128M RAM, >20G HD, 48X CDROM）。一个测试头，600 V 电压输出/ 20 A 电流输出能力。系统可扩充为三个测试头，2000 V 电压输出/ 100 A 电流输出，以及交流参数和时间参数（开发中）测量能力。基本配置下最小漏电流测量分辨率为 30 pA。系统施加和测量精度为 0.1% ~0.5% 。ICT2900系统的可扩充结构，使用户可以根据需要选购不同的系统配置。 系统有探针台和机械手接口，与探针台和机械手连接，用于圆片测试和大批量成品测试。配合软件设置，可对被测器件进行筛选和分类。运行于WIN 98 下的系统控制和测试程序采用了方便易学的窗口菜单界面，测试人员可以轻松快捷地控制系统，测试器件和开发测试程序。ICT2900系统具有 IEEE 488 接口，通过这个接口连接高精度数字电压表，可对系统进行检验和校准。

特点：
● Pentium   系统主控计算机
● 600 V 高压程控电压源（基本配置）最高2000 V 
● 20 A 电流输出能力（基本配置），最大 100 A
● 30 pA 漏电流测量分辨率
● 多测试头（基本配置一个）
● 简便易学的窗口菜单式软件
● 测试种类几乎覆盖全部半导体分立器件
● 广泛用于半导体分立器件的生产测试，验收测试，质量控制和工程设计
● 终身技术支持