半导体分离器件测试仪XD2791

产品特点：

       XD2791 LCR自动测量仪是一种内含微处理器的智能元件参数测量仪,在内部管理程序的控制下, 可自动完成对电子元件的电感值L、电容值R、品质因数Q和损耗值D的测量，并同时用LED数码显示被测元件的主参量和副参量。由于增加了测D值和Q值及双显示功能，与国内外同类产品相比较,使用将更加方便，节省了测量时间，提高了工作效率。 

1、具有两种可选择的测试信号频率100Hz和1Hz。仪器内部设有2伏直流偏置电压以满足测量电解电容器的需要。 

2、具有自动量程和自动识别被测元件的电抗性质的功能。 

3、配置有用户提示功能，它可以帮助您获得最精确的测量。 
        

技术指标 
 1、测量参数： R，L-Q，C-D 
 2、测量范围： 
     主参量：R：0.001Ω-100MΩ     L: 0.1μH-9999H      C: 0.1pF-9999μF 
     副参量: Q: 0.01-99         D: 0.01-99 
 3、测量信号： 
    频率：100Hz或1kHz    其误差为标称值的0.025%         
    电压：≤0.3Vrms 
 4、测量速度：2次/秒 
 5、显示方式：主、副参数均为4位LED数字显示，并带有自动小数点。 
 6、被测元件的接法：四端连接 
 7、等效电路：