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LCR智能电桥3535 LCR HiTESTER

高速LCR仪,采样率可高至120MHz 100kHz~120MHz的宽频带 高速LCR测试(6ms/采样100kHz~120MHz的宽频带 高速LCR测试(6ms/采样
生产厂商: 日本日置 产品型号: 3535 LCR HiTESTER
产品简介: 高速LCR仪,采样率可高至120MHz 100kHz~120MHz的宽频带 高速LCR测试(6ms/采样100kHz~120MHz的宽频带 高速LCR测试(6ms/采样

产品特点:

高速LCR仪,采样率可高至120MHz 100kHz120MHz的宽频带 高速LCR测试(6ms/采样)                                
拆卸式前置放大器可选择 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能 

技术规格:

基本参数 
测量参数 |Z||Y|QRpRs(ESR)GXB,θ,LsLpCsCpD(tanδ
前置放大器
决定的测量量程  前置放大器 9700-01 9700-02 9700-03 
Z
R 100mΩ~1kΩ 500Ω~10kΩ 5kΩ~100kΩ 
C 1.33pF
15.9μF 0.133pF3.18nF 0.1pF318pF 
L 1nH
1.59mH 663nH15.9mH 6.63μH159mH 
θ -180.00°~180.00° 

测量频率 量程 100kHz120MHz 
分辨率设置 4位(使用前控制板设置) 
100.0kHz
1.000MHz  100Hz幅度 
1.000MHz
10.00MHz 1kHz幅度 
10.00MHz
100.0MHz 10kHz幅度 
100.0MHz
120.0MHz 100kHz幅度

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