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LCR智能电桥3532-50 LCR HiTESTER

测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整。可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。
生产厂商: 日本日置 产品型号: 3532-50 LCR HiTESTER
产品简介: 测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整。可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。

产品特点:

搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪 测试频率可在42Hz5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整。可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来。

技术规格:

基本参数 
测量参数 Z,Y,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)
测量方法 测量源:恒流10μ~100mA(42Hz1MHz)50μ~20mA (1MHz5MHz),或恒压
10mV
5V(42Hz1MHz),50mV1V(1MHz5MHz) 
检测:电压,AC 
测量频率 42Hz5MHz 
测量量程 Z│,RX10.00mΩ~200.00MΩ(视条件而定
θ:-180.00~+180.00oC:0.3200pF370.00mF
L:16.000nH
750.00kH, D:0.000019.99999
Q:0.01
999.99 Y,G,B5.0000nS99.999S 
基本精度 Z±0.08% rdg.,θ±0.05°  
测量时间
Z│的典型值 快速:5ms 慢速2

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