可测试各元件参数及GO/NO GO测试: BIPOLAR TRANSISTOR:Icbo.1ceo.1ebo.BVcbo.BVebo.BVceo.Vce(sat).Vbe (sat).hFE.Icer.Ices.1cev.BVcer.BVces.BVcev
·DIODE:Ir.BVr.Vf
·ZENER DIODE:BVz.Izr.Vzr.Vzf
·JFET:Idss.1gss.BVgss.gm
·MOSFET:Idss.Igss.BVdss.Vgs(th)
·SCR&TRlAC:+/-Igt,+/-Igt.Ih
·VOLTAGE RECULATOR:+/-Vo,+/-Iib, ΔV
·内建有继电器距阵,从nA范围至1200v,提供了准确性及多种测试功能。
·电池保持的CMOS RAM,可存储56种不同的测试程序。
·元件自动检测DUT的任何开路、短路及接面故障问题。辨认元件型式及正确的接脚连接等问题。
·具有软体自动校正功能及IEEE-488接口、高压和上料机自动输送量测等介面功能。
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