超声显微镜检测或无损检测高速数据采集卡Al8xgte-x系列

新一代高速数据采集卡Al8xgte-x系列，超声显微镜或无损检测神器！

 如果你需要进行精确、可靠的无损检测，那么Al8xgte-x系列的高速数据采集卡一定是你的首选。这一系列的采集卡拥有着良好的兼容性和稳定性，适用于各类超声检测领域，包括金属材料、钢制管道以及航空航天等。

Al8xgte-x系列数据采集卡采用了先进的数字信号处理技术，在高速数据采集方面具备重大优势。与此同时，它还拥有高速采集存储、回放等多项功能，以满足各类客户在超声检测方面的需求。

Al8xgte-x系列采集卡是一种非常方便易用的设备，它能简化检测过程，并有效提升工作效率。使用该设备，只需要将数据采集卡连接至计算机的PCIe括展槽内，开启软件即可开始操作。另外，根据不同客户的需求，我们也提供了多种多样的接口，以便灵活应对各类检测需求。

这些板卡系列有传统的PCI接口的板卡，而高速采集率的（1G, 1.5G, 3GS/s）的采集卡则采用PCI Express接口，以提升数据传输速率。

所有的OKOS板卡方案允许多触发采集和板上峰值检测功能。甚至也可以通过固件升级进行定制处理功能。

  这些系列的板卡最大的特点是针对超声显微镜应用做的优化: 在一个测试样本内多域B-SCAN的创新。这个新的功能允许用户当跟踪到一个阈值跨越时去测试独立的波形区域。

  例如：设置时段从10到12us, 40到40us， 120到124us，和160到165us，这这个测试样本内，只从这些区域收集数据。这项功能在需要非连续B-SCAN区域内的应用非常有价值。

总之，Al8xgte-x系列高速数据采集卡是一款值得信赖的无损检测神器。只要您选择了这款设备，您就能够体验到一种高效、可靠的检测过程，让您的工作更加省心省力。