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数据采集及回放系统
超声(UT)或无损检测(NDT)PCIe高速数据采集卡
生产厂商:
OKOS公司
产品型号:
Al8xgte-3
产品简介:
分辨率:8位带宽:DC到1000MHz通道数:1通道3GS/s,2通道每通道1.5Gs/s 最大采样率:12 GHz 1通道模式,最小采样率:250 GHz
售价:¥98000
AL8xGTE-3 是一款单通道、高分辨率、8 位 3 GS/s PCI Express 数字化仪板,支持 PCI Express x1 总线。板载内存选项范围从 512M 样本到 2G 样本,内存操作允许在数据传输到 PC 时继续采集。AL8xGTE-3 数字化仪利用 8 位 ADC 数字化输入信号。采样率范围从 3GS/s 到 250 KS/s。采集可以通过软件、BNC、正交编码器输入或内部 TTL 连接触发。采集可以由多个数据记录组成;每个记录都是触发事件的结果。记录可以同时具有预触发和后触发数据。AL8xGTE-3 套件包括一个示例应用程序,允许用户立即开始数据采集。通过免费提供的基于 Windows 的软件开发套件,可以简化将 AL8xGTe-3 集成到客户特定软件的过程。SDK 包括对 C# 或 C/C++ 和 VB、适用于 Windows 的 LabVIEW™ 的支持。采集系统
AL8xGTE-3 套件包含一个示例应用程序,允许用户立即开始数据采集。无需额外付费,即可通过基于 Windows 的软件开发套件将 AL8xGTe-3 集成到客户特定软件中。SDK 包括对 C# 或 C/C++ 和 VB、LabVIEW™ for Windows 的支持。采集系统能够在前一次触发后的 1uS 内由硬件重新启动。板载采集内存高达 20 亿个样本双端口内存架构,可同时收集和处理/下载。触发输入/输出连接器可选外部时钟连接器多种触发模式
分辨率:8位
带宽:DC到1000MHz
通道数:1通道3GS/s,2通道每通道1.5Gs/s
最大采样率:12 GHz 1通道模式
最小采样率:250 GHz
满量程输入范围125 mV、250 mV、500 mV、1V、2V软件选择
DC精度:所有输入范围内满量程的±5%
输入耦合:DC
输入阻抗:50 Ohms
输入保护:50 Ohms +/- 5V
BNC: CH A
BNC: CH B(用于2通道配置)
BNC 触发输入、触发输出
BNC 时钟
内部时钟外部参考时钟
电源要求+5V 3.5 A;+3.3伏2.4安;+12V.01A;-12V.01A
物理尺寸单槽PCI Express卡(4.25英寸x 9.375英寸);重量210克
环境工作温度0至55°C;
储存温度-20至70°C;
相对湿度5至95%,无冷凝
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