◆先进的测试技术,强大的驱动能力,任何故障原因的电路板皆可修好
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◆友好简单的中文操作界面,不经专业训练,任何人均可成为维修专家
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◆无需电路原理图,不必知道器件型号,对任何电路板皆可快速维修
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◆40/40×2路数字电路测试功能,备有TTL/CMOS/RAM及中规模集成电路数据库
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◆40/40×2(ASA)V/I,曲线分析测试功能
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◆电路板测试存储功能,被测板可与之比较
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◆与进口同类仪器比较,性价比更优,操作更方便
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◆通用于各类双列直插式封装芯片,可为大中规模集成电路提供分析测试
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◆本功能亦可通过学习记录,比较分析来测试
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1、探棒对探捧(“棒”—“棒”模式)
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3、测试夹对探捧(“夹”—“棒”模式)
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2、探捧对测试夹(“棒”—“夹”模式)
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4、测试夹对测试夹(“夹”—“夹”模式)
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1、TVED允许两种建立测试图形和方法 a)在TVED图形界面上直接建立 b)读入DCL语言的编译结果
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2、编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能,参考取回的响应,不断对测试图形加以调整、修改。
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3、4种测试方式: a)完整执行一个测试 b)执行一个测试的一部分c)循环执行 d)单步运行
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型号
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GT4040XP
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GT4880XP
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GT8080XP
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通道
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ICTF: 40th
V/I曲线:40th
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ICTF: 40th
V/I曲线: 80th
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ICTF: 40×2th
V/I曲线: 80th
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附件
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双列直插夹具(7件) 表面贴双列直插夹具(7件) 单排式40脚夹具(3件)
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价格
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18,000
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26,000
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38,000
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产地
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北京迪阳科技仪器
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单个器件功能测试
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IC状态测试
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VI曲线分析
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PROM操作
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LSI在线分析
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数据库整理
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器件端口特征曲线测试
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