集成电路测试系统

本系统的主要特点
该测试系统是一个高科技中档次的集成电路测试系统，其性能和指标已达到世界先进国家同类产品的水平，该系统运行稳定，测试重复性好，操作简便，可诊断性、可维护性好，性价比高。
测试对象及测试功能：
测试对象：
TTL、CEL、COMS、NMOS及其他类型的MSI/LSI器件，包括微处理器、微控制器、配套的外围品件、静态及动态RAM、PROM、EPROM和一定范围内的集成电路。

测试功能：
真值表功能测试，直流参数测试


适用范围
1.半导体器件生产厂家的生产测试（中测和成测）

2.整机厂、研究单位的器件验收测试及其他各种应用测试。
　＊测试速率：２ＭＨz
　＊测试通道数：４８
　＊接口：具有计算机通用外设接口，串行Ｒ２３２通信接口，ＩＥＥ－４８８仪器接口，自动中测台、自动上料器接口。
　＊应用软件主要包括：系统的诊断、校准包；测试程序库。

BJ3140 现有测试程序
74LS系列：
00,01,02,03,04,05,08,09,10,11,12,13,15,20,27,30,32,42,47,74,75,78a,83a,85,86,92,
93,107,109, 112,113,114,123,123s,125,126,132,133,138,139,148,151,153,155,156,157,158,161,163,163k,164,173,174,
175,181,190,193,194,195,197,221,221s,240,241,244 245,251,253,257,258,259,260,273,279,280,299,353,
367a,373,374,393,393a,541,574.

74S系列：
03,05,08,09,10,11,32,40,64,86f,114,133,138, 139,151,153,157,163-2,181,201,241,244,251,280, 299,373.

74系列：
00,01,02,03,04,05,08,09,10,12,13,14,16,17,20,22,23,25,26,27,28,30,32,37,38,40,
42a,45,50,53,54,60,74,75,76,80,100,107,122,125,151a,153,154,156,163,176,182,195
196,221,251,265,273,276,278,279, 283,293,298,367.

74HC系列：
00,04,161,573.

54LS系列：
02，03，04，05，08，09，10，11，12，251．

54S系列：
02,03,04,05,08,09,10,11.

54HC系列：
221,241,393,51,76

4000系列:
00,01,02,07ub,08,09ub,10,11,11a,13,15,17,18,19 20,21,22,23,24,25,26

其他：
8088,8088c,8212,8214,8216,8226,8228,8238,8253, 8255,8259,8259a,8279,8282,8283,8286,8287,8288,82-c83,6264,8287,2167,2167-1,pyd76,s74138a,s74157, s74193.