引言
　　为了完成今天越来越复杂的数字系统的设计, 工程师需要完善的分析工具。对于系统验证任务, 大多数工程师都要依靠逻辑分析仪。随着被测系统速度的不断提升和复杂程度的持续增加, 逻辑分析仪厂商也及时提高了仪器的性能和功能, 以满足工程师的需求。在许多情况下, 逻辑分析仪主机的性能往往超过手头任务的需要, 而从分析仪到目标系统的探头物理连接则成为系统性能的瓶颈。如果逻辑分析仪接收到的信号有畸变, 那么逻辑分析仪的强大触发和分析工具将是无用武之地。
　　这篇应用指南将讨论实现成功逻辑分析仪探头连接, 需要考虑的探测问题。我们将介绍探头结构形式选择、探头负载和信号质量概念, 以及与接地有关的常见问题。最后讨论两种容易犯的错误: 在错误的引线位置探测和选择了错误的互连。

提示1探头结构形式

　　如果您决定使用逻辑分析仪, 也就必须选择使用何种类型的探头连接。探头连接可分成两大类: “设计中包括连接”和“事后连接”。对于设计中包括的连接, 逻辑分析仪探头所探测的测试点就融入在最初设计中。连接器探头和无连接器探头都属于这类连接。为使用这两类探头,设计师在电路板上布放适宜的焊盘,并把感兴趣的信号连到焊盘上。逻辑分析仪探头上的连接器能与目标连接器可靠插接。无连接器探头则能压在电路板焊盘上, 以保证良好地接触 (图1a)。
　　探头 “事后连接” 的适应测试能力未融入设计的系统。此时您需要用包括各种互连附件（焊接、抓钩等）的探头触针实现连接。最常用的“事后连接”探头是飞线探头(图1b)。
　　在讨论各种探头结构形式的优缺点前, 先了解您在把逻辑分析仪接到系统时会遇到的一些问题。